基于LVDS電路的預加重測試
冉翠翠; 張磊; 馬錫春; 何立 中國電子科技集團第五十八研究所; 江蘇無錫214072
關鍵詞：預加重 lvds電路 ate測試
摘要：在高速LVDS集成電路的測試中,由于長距離、高速率下會帶來能量損失,這種傳輸損耗會使信號的高頻分量比低頻分量損耗更大,而導致驅動能力不足等問題,故在集成電路設計中增加預加重,來補償傳輸損耗。該文結合具有預加重功能的MAX3845電路,對可置位預加重管腳設置三種不同狀態(tài),通過ATE動態(tài)編程,結合預加重計算公式,計算預加重dB指數(shù),驗證電路預加重模塊設計質量,進一步總結測試方法和結果。
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