基于環(huán)繞抑制模型的輪廓檢測(cè)
關(guān)鍵詞：圖像處理 輪廓檢測(cè) 環(huán)繞抑制 超像素
摘要：輪廓檢測(cè)是高級(jí)視覺(jué)任務(wù)的重要基礎(chǔ).目前存在兩個(gè)難點(diǎn):一是檢測(cè)輪廓缺失,二是紋理邊緣冗余.針對(duì)這兩個(gè)問(wèn)題,本文結(jié)合基于多線索的環(huán)繞抑制模型提出一種新穎的輪廓檢測(cè)算法.先增加環(huán)繞抑制強(qiáng)度,旨在進(jìn)一步抑制冗余的紋理.為了防止同時(shí)抑制輪廓,利用改進(jìn)的超像素分割算法(SLIC)獲得候選輪廓,進(jìn)而在候選輪廓處進(jìn)行解抑制.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明了本文算法在提取更完整輪廓的同時(shí)盡可能地抑制了冗余的紋理.
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